低温测试法是电子电工类产品常见的测试方法。就是测试产品在温度变化下机器的可靠性，以及产品对温度环境的耐受性。
全年温度通常在0℃ ~ +40℃的范围内, 一般冬天时低温常介于-32℃ ~ -46℃之间，-51℃出现机率则小于20%。
不同类型的产品采用的测试条件也不同.例如: 消费性电子环境试验温度通常介于+5℃~ -5℃之间，网通类产品与工业用产品因使用寿命考量通常藉于-5℃~-20℃之间，若属长期户外使用之产品则建议其耐环境温度至少应-30℃才能有竹垢的可靠度水准.
IEC对于试验前处理、试验后处理、升温速度、温度稳定定义、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有予以规范。
在应用上通常区分为储存低温试验(Low Temperature Storage Test)与操作低温试验(Low Temperature Operating Test)，进行操作低温试验时强烈建议须执行低温启动试验(Cold start test)，因在实务经验中多数产品均存在着在低温下出现电源无法启动现象。若能在执行低温试验时伴随着产品Z低工作电压一并进行则更佳。
常见低温效应包括低温无法启动、材料龟裂、玻璃材料脆化、可动部份卡死、润滑特性改变等现象.
